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彼奥德技术总监杨正红先生作为中国代表团出席

来源:彼奥德 2019-09-23

国际音乐之都，以阿尔卑斯山脉及优美自然环境享誉盛名的奥地利，于2019年4月迎来来自世界各地的60余位专家委员相聚一堂。国际标准化组织颗粒表征筛分法以外的粒度分析方法技术委员会(ISO/TC24/SC4)第56次会议于4月12-13日在山城格拉茨举行，对颗粒表征技术的国际标准进行制定与修订。

颗粒表征国际标准制定及修订
彼奥德技术总监仪思奇(北京)科技发展有限公司总经理杨正红先生，作为中国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会委员(SAC/TC168)，参加中国代表团并出席本次会议，代表中国参加：
第3工作组(WG3,孔径分布和孔隙率)
第8工作组(WG8,图像法粒度分析)
第14工作组(WG14,超声法粒度分析)
第17工作组(WG17,zeta电位测定方法)
等相关领域的标准讨论和修订。
杨正红先生成为ISO/TC24/SC4注册会员